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HBM、MM測試儀本產(chǎn)品可進行器件級ESD測試，包括CDM測試。可應(yīng)用于器件開發(fā)評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環(huán)境評價等各種試驗用途。

日本HBM/MM/閂鎖 半導體靜電測試儀7000X系列： ●7000X-E（專用于ESD試驗） ●7000X-L（專用于閂鎖試驗） ●7000X-EL（用于ESD/閂鎖試驗）

半導體閂鎖測試儀7000B產(chǎn)品用途【ESD部-滿足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標準、ESD波形自動測試、對應(yīng)引腳組合測試、高達8kV HBM測試、采用高規(guī)格電源進行破壞判定。

日本半導體靜電測試儀陣容有： $n●1100-ESD（ESD試驗專用型號）$n●1100-CDM （CDM試驗專用型號）$n●1100-LUP （LATCH UP閂鎖 試驗專用型號）

日本TET靜電ESD測試儀$n該系列測試機臺陣容有：$n●7000B-E（專用于ESD試驗）$n●7000B-L（專用于閂鎖試驗）$n●7000B-EL（用于ESD/閂鎖試驗）

日本HBM測試儀本產(chǎn)品可進行器件級ESD測試，包括CDM測試。可應(yīng)用于器件開發(fā)評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環(huán)境評價等各種試驗用途。